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规范标准

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当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 微电路（L55/59） 微电路综合（L55）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • DB44/T 1903-2016
    广东省线路板特性阻抗测试方法 时域反射法
    现行
    地方标准
    推荐性
    2016-12-29
  • GB/T 20296-2012
    集成电路记忆法与符号
    现行
    国家标准
    推荐性
    2013-07-01
  • GB/T 28277-2012
    硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2012-12-01
  • GB/T 28276-2012
    硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2012-12-01
  • GB/T 28275-2012
    硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2012-12-01
  • GB/T 28274-2012
    硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则
    现行
    国家标准
    推荐性
    2012-12-01
  • GB/T 26113-2010e
    微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26113-2010
    微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26112-2010
    微机电系统（MEMS）技术 微机械量评定总则
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26111-2010
    微机电系统（MEMS）技术 术语
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • DB44/T 633-2009
    广东省锂离子电池保护电路板技术要求
    废止
    地方标准
    推荐性
    2009-12-01
  • GB/T 20296-2006
    集成电路记忆法与符号
    废止
    国家标准
    推荐性
    2007-01-01
  • SJ 20954-2006
    集成电路锁定试验
    现行
    暂无
    强制性
    2006-12-30
  • SJ 20961-2006
    集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
    现行
    暂无
    强制性
    2006-12-30
  • SJ 20938-2005
    微波电路变频测试方法
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • GB/T 19248-2003
    封装引线电阻测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2003-10-01
  • SJ 2817-1987
    膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
    被代替
    暂无
    强制性
    2003-03-01
  • SJ 20802-2001
    集成电路金属外壳目检标准
    现行
    暂无
    强制性
    2002-01-01
  • SJ/T 10805-2000
    半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
    被代替
    行业标准
    推荐性
    2001-03-01
  • SJ/T 10804-2000
    半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
    现行
    行业标准
    推荐性
    2001-03-01
共 95 条