• 当前位置：
    首页 规范标准 CCS分类

规范标准

Standard Resource
当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 微电路（L55/59） 微电路综合（L55）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 34900-2017
    微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
  • GB/T 34899-2017
    微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
  • GB/T 34898-2017
    微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
  • GB/T 34894-2017
    微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
  • GB/T 34893-2017
    微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
  • SJ/T 11708-2018
    功率电机驱动器测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11706-2018
    半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 10805-2018
    半导体集成电路 电压比较器测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 2406-2018
    微波电路型号命名方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11705-2018
    微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11704-2018
    微电子封装的数字信号传输特性测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11703-2018
    数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11700-2018
    IP核质量信息描述方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11699-2018
    IP核可测性设计指南
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • GB/T 33929-2017
    MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-02-01
  • GB/T 33922-2017
    MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-02-01
  • GB/T 32817-2016
    半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2017-03-01
  • GB/T 32816-2016
    硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2017-03-01
  • GB/T 32815-2016
    硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2017-03-01
  • GB/T 32814-2016
    硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2017-03-01
共 95 条