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GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 18907-2013
  • 名称:
    微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
  • 英文名称:
    Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2013-07-19
  • 实施日期:
    2014-03-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    本标准按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。
    本标准代替GB/T18907—2002《透射电子显微镜选区电子衍射分析方法》。
    本标准与GB/T18907—2002相比主要技术内容变化如下:
    ———修改了适用范围的内容(见第1章);
    ———增加了引用标准(见第2章);
    ———增加了术语、定义和符号(见第3章);
    ———增加了插图来说明相关的原理和方法(见4.2);
    ———增加了对单晶体的斑点衍射、菊池图和多晶体衍射谱的说明(见4.2、4.3、4.4);
    ———增加了布拉格公式的更精确形式以及应用菊池线对间距的相应公式(见4.2、4.3);
    ———增加了去除试样表面污染的要求和方法(见6.4);
    ———增加了对纯元素标准物质(如金或铝)的质量分数要求(见第7章);
    ———增加了按GB/T27025进行实验室能力认证的要求(见8.1.1);
    ———增加了减缓试样污染的操作要求(见8.1.2);
    ———增加了关于获得第二个及更多衍射谱的方法(见8.2.11);
    ———增加了利用暗场像技术和微区化学分析方法确定物相的要求(见8.2.11);
    ———修改了衍射常数的测定方法与步骤(见8.3);
    ———修改了单晶体衍射谱指数标定的方法、步骤(见第9章);
    ———增加了对选区电子衍射谱180°不确定性的说明与解决方法(见第10章);
    ———增加了对选区电子衍射分析结果的不确定度评估(见第11章);
    ———修改了附录B衍射斑点图谱的表征方法和编排顺序。
    本标准使用翻译法等同采用ISO25498:2010《微束分析 分析电子显微术 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法》。
    与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
    ———GB/T27025—2008检测和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)
    本标准做了下列编辑性修改:
    ———ISO25498:2010中3.1~3.4、3.6~3.8只有定义内容而没有术语,本标准增加了术语及英文对照。
    ———增加了4.1以适应国家标准要求,将原文的4.1、4.2、4.3分别改为4.2、4.3、4.4。
    ———将ISO25498:2010的4.1中图1~图3调整到4.2相对应的位置。
    本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
    本标准起草单位:北京科技大学、北京航空材料研究院、宝钢集团中央研究院。
    本标准主要起草人:柳得橹、娄艳芝、柏明卓。
    本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
    ———GB/T18907—2002。
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    ISO/IEC17025 检测和校准实验室能力的通用要求(Generalrequirementsforthecompetenceoftestingandcalibrationlaboratories)
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 18907-2002
  • 引用标准:
    ISO/IEC 17025
  • 采用标准:
    ISO 25498:2010 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    北京科技大学 北京航空材料研究院 宝钢集团中央研究院
  • 归口单位:
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 主管部门:
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
相关人员
暂无
关联标准