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GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
化工技术（71）
分析化学（71.040）
化学分析（71.040.40）
】
-
CCS分类：
【
化工（G）
化工综合（G00/09）
基础标准与通用方法（G04）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准等同采用ISO19318:2004《表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。
本标准主要起草人:吴正龙。
-
适用范围：
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT)
GB/T22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准(ISO15472:2001,IDT)
相关标准
相关部门
-
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会
-
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会
-
主管部门：
全国微束分析标准化技术委员会
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起草单位：
北京师范大学分析测试中心
相关人员
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