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GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 25185-2010
  • 名称：
    表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
  • 英文名称：
    Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2010-09-26
  • 实施日期：
    2011-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准等同采用ISO19318:2004《表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》。
    本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
    本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。
    本标准主要起草人:吴正龙。
  • 适用范围：
    本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT)
    GB/T22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准(ISO15472:2001,IDT)
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 22461-2008 GB/T 22571-2008
  • 采用标准：
    ISO 19318:2004 表面化学 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 提出部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 主管部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 起草单位：
    北京师范大学分析测试中心
相关人员
暂无
关联标准