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当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 半导体分立器件（L40/49） 半导体分立器件综合（L40）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ 50033/158-2002
    半导体分立器件 3DG44型硅超高频低噪声晶体管详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2003-03-01
  • SJ 50033/154-2002
    半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2003-03-01
  • SJ 1400-1978
    半导体器件参数符号
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-07-01
  • GB/T 11499-2001
    半导体分立器件文字符号
    现行
    国家标准
    推荐性
    2002-06-01
  • SJ 1609-1980
    硅双基极二极管分压比的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1608-1980
    硅双基极二极管各点电压和各点电流的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1607-1980
    硅双基极二极管调制电流的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1606-1980
    硅双基极管峰点电流的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1605-1980
    硅双基极二极管饱和压降的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1603-1980
    硅双基极二极管基极间电阻的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1604-1980
    硅双基极二极管发射极与第一基极间反向电流的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • SJ 1602-1980
    硅双基极二极管测试方法总则
    被代替
    暂无
    强制性
    2002-05-01
  • GB/T 12560-1999
    半导体器件 分立器件分规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2000-03-01
  • GB/T 17573-1998
    半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
    现行
    国家标准
    推荐性
    1999-06-01
  • GB/T 4937-1995
    半导体器件机械和气候试验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-08-01
  • GB/T 15651-1995
    半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
    现行
    国家标准
    推荐性
    1996-04-01
  • GB 12560-1990
    半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
    被代替
    暂无
    强制性
    1991-10-01
  • GB/T 12300-1990
    功率晶体管安全工作区测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1990-08-01
  • GB 12300-1990
    功率晶体管安全工作区测试方法
    现行
    暂无
    强制性
    1990-08-01
  • GB 11499-1989
    半导体分立器件文字符号
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-04-01
共 62 条