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当前选择： CCS分类 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84） 半金属与半导体材料综合（H80）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 1553-2009
    硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 1551-2009
    硅单晶电阻率测定方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • YS/T 679-2008
    非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    2008-09-01
  • GB/T 14844-1993
    半导体材料牌号表示方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1994-09-01
  • GB/T 14264-1993
    半导体材料术语
    废止
    国家标准
    推荐性
    1993-12-01
  • YS/T 23-1992
    硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-01-01
  • YS/T 24-1992
    外延钉缺陷的检验方法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-01-01
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
共 67 条

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