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规范标准

Standard Resource
当前选择： CCS分类 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84） 半金属与半导体材料综合（H80）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 16596-2019
    确定晶片坐标系规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2020-02-01
  • GB/T 16595-2019
    晶片通用网格规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2020-02-01
  • GB/T 14844-2018
    半导体材料牌号表示方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2019-11-01
  • GB/T 8756-2018
    锗晶体缺陷图谱
    现行
    国家标准
    推荐性
    2019-07-01
  • GB/T 37051-2018
    太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2019-04-01
  • GB/T 35316-2017
    蓝宝石晶体缺陷图谱
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-07-01
  • GB/T 34479-2017
    硅片字母数字标志规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-07-01
  • T/IAWBS 001-2017
    碳化硅单晶
    现行
    团体标准
    推荐性
    2017-12-31
  • T/IAWBS 003-2017
    碳化硅外延层载流子浓度测定　汞探针电容-电压法
    现行
    团体标准
    推荐性
    2017-12-31
  • GB/T 32279-2015
    硅片订货单格式输入规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2017-01-01
  • YS/T 28-2015
    硅片包装
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • GB/T 13389-2014
    掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • YS/T 986-2014
    晶片正面系列字母数字标志规范
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 985-2014
    硅抛光回收片
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • GB/T 30453-2013
    硅材料原生缺陷图谱
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-10-01
  • GB/T 14863-2013
    用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    2014-08-15
  • GB/T 30110-2013
    空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-05-15
  • GB/T 29507-2013
    硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-02-01
  • GB/T 29505-2013
    硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-02-01
  • DB65/T 3486-2013
    新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
    现行
    地方标准
    推荐性
    2013-12-01
共 67 条