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SJ 20062-1992 半导体分立器件 3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管详细规范

Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon NPN ultra-high frequency low-noise difference match transistor of Type 3DG210
基本信息
  • 标准号:
    SJ 20062-1992
  • 名称:
    半导体分立器件 3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管详细规范
  • 英文名称:
    Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon NPN ultra-high frequency low-noise difference match transistor of Type 3DG210
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    暂无
  • 性质:
    强制性
  • 发布日期:
    1992-11-19
  • 实施日期:
    1993-05-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本规范规定了3DG210型NPN硅超高频低噪声差对晶体管(以下简称器件)的详细要求,该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级).
  • 引用标准:
    GB 4587-1984 双极型晶体管测试方法
    GB 7092-1986 半导体集成电路外形尺寸
    GJB 33-1985 半导体分立器件总规范
    GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法
相关标准
暂无
相关部门
  • 归口单位:
    中国电子技术标准化研究所
  • 提出部门:
    中国电子工业总公司科技质量局
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究所和国营八七一厂
相关人员
  • 起草人:
    王长福 黄世杰 李红