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GB/T 4930-2008 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准等同采用ISO14595:2003《微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则》(英文版)。
    为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
    ---本国际标准一词改为本标准;
    ---用小数点.代替作为小数点的逗号,;
    ---删除国际标准的前言。
    本标准代替GB/T4930-1993《电子探针分析标准样品通用技术条件》,因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。
    本标准对GB/T4930-1993进行了全面修改:
    ---标题:将GB/T4930-1993原标题电子探针分析标准样品通用技术条件(00j)Tj改为微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则;
    ---所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动,运用的技术方法更先进,更合理;
    ---标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院(NIST)和英国国家物理实验室(NPL)共同研制的检测和统计方法;
    ---将标样分级的概念引入本标准,使制作和应用标样的领域扩大,更合理,更全面。
    本标准的附录B为规范性附录,附录A、附录C 为资料性附录。
    本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
    本标准起草单位:中国科学院广州地球化学研究所。
    本标准主要起草人:刘永康、万光权、梁细荣、杨秋剑。
    本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
    ---GB4930-1985、GB/T4930-1993。
  • 适用范围：
    本标准给出了用于电子探针分析的单相标样，并规定了标样仅应用在平整抛光表面的显微分析中。本标准不包括有机物和生物标样。
  • 引用标准：
    下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
    ISO 导则31:2000 标准物质 认证内容和标示(ISO Guide31:2000,Referencematerials-Contentsofcertificatesandlabel)
相关标准
  • 代替标准：
    GB/T 4930-1993
  • 引用标准：
    ISO 导则31:2000
  • 采用标准：
    ISO 14595:2003 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 提出部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 起草单位：
    中国科学院广州地球化学研究所
相关人员
暂无
关联标准