规范标准

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当前选择: ICS分类 电子学(31) 集成电路、微电子学(31.200)
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ/Z 11353-2006
    集成电路IP核转让规范
    现行
    行业标准
    指导性技术文件
    2006-12-01
  • SJ/Z 11351-2006
    用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准
    现行
    行业标准
    指导性技术文件
    2006-12-01
  • SJ 50597/61-2005
    半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • SJ 52438/14-2004
    混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2004-12-01
  • SJ 50597/60-2004
    半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2004-12-01
  • GB/T 19403.1-2003
    半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
    现行
    国家标准
    推荐性
    2004-08-01
  • GB/T 17574.10-2003
    半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2004-08-01
  • GB/T 19248-2003
    封装引线电阻测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2003-10-01
  • GB/T 18500.2-2001
    半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2002-06-01
  • GB/T 18500.1-2001
    半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2002-06-01
  • SJ/T 10804-2000
    半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
    现行
    行业标准
    推荐性
    2001-03-01
  • SJ/T 10741-2000
    半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
    现行
    行业标准
    推荐性
    2001-03-01
  • GB/T 5965-2000
    半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2000-07-01
  • GB/T 17940-2000
    半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
    现行
    国家标准
    推荐性
    2000-07-01
  • GB/T 17866-1999
    掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
    现行
    国家标准
    推荐性
    2000-06-01
  • GB/T 17865-1999
    焦深与最佳聚焦的测量规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2000-06-01
  • GB/T 17864-1999
    关键尺寸(CD)计量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2000-06-01
  • GB/T 17574-1998
    半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
    现行
    国家标准
    推荐性
    1999-06-01
  • GB/T 17572-1998
    半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    1999-06-01
  • GB/T 17571-1998
    碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
    废止
    国家标准
    推荐性
    1999-06-01
共 185 条