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当前选择： ICS分类 电子学（31） 半导体分立器件（31.080）
  • 半导体分立器件综合（31.080.01）
  • 二极管（31.080.10）
  • 晶体闸流管（31.080.20）
  • 三极管（31.080.30）
  • 其他半导体分立器件（31.080.99）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 20992-2007
    高压直流输电用普通晶闸管的一般要求
    现行
    国家标准
    推荐性
    2008-02-01
  • SJ 20972-2007
    电荷耦合成像组件通用规范
    现行
    暂无
    强制性
    2007-12-01
  • GB/T 21039.1-2007
    半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-11-01
  • GB/T 20870.1-2007
    半导体器件 第16-1部分：微波集成电路 放大器
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-09-01
  • GB/T 20516-2006
    半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-02-01
  • GB/T 4589.1-2006
    半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-02-01
  • GB/T 20522-2006
    半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-02-01
  • GB/T 20521-2006
    半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-02-01
  • GB/T 4937.2-2006
    半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-02-01
  • GB/T 4937.1-2006
    半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
    现行
    国家标准
    推荐性
    2007-02-01
  • SJ 20961-2006
    集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
    现行
    暂无
    强制性
    2006-12-30
  • SJ 20957-2006
    大功率半导体激光二极管阵列通用规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-12-30
  • SJ 20938-2005
    微波电路变频测试方法
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • GB/T 13150-2005
    半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2005-10-01
  • GB/T 13151-2005
    半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2005-10-01
  • SJ 50033/169-2004
    半导体分立器件3DA510型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2004-12-01
  • SJ 50033/166-2004
    半导体分立器件3DA507型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2004-12-01
  • SJ 50033/168-2004
    半导体分立器件3DA509型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2004-12-01
  • SJ 50033/167-2004
    半导体分立器件3DA508型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2004-12-01
  • GB/T 8446.3-2004
    电力半导体器件用散热器 第3部分:绝缘件和紧固件
    现行
    国家标准
    推荐性
    2004-08-01
共 169 条