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规范标准

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当前选择： ICS分类 电气工程（29） 半导体材料（29.045）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 29508-2013
    300mm 硅单晶切割片和磨削片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-02-01
  • GB/T 29505-2013
    硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-02-01
  • GB/T 29506-2013
    300mm 硅单晶抛光片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-02-01
  • GB/T 29504-2013
    300mm 硅单晶
    现行
    国家标准
    推荐性
    2014-02-01
  • DB65/T 3486-2013
    新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
    现行
    地方标准
    推荐性
    2013-12-01
  • DB65/T 3485-2013
    新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
    现行
    地方标准
    推荐性
    2013-12-01
  • GB/T 29055-2012
    太阳电池用多晶硅片
    废止
    国家标准
    推荐性
    2013-10-01
  • GB/T 29057-2012
    用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
    现行
    国家标准
    推荐性
    2013-10-01
  • GB/T 29054-2012
    太阳能级铸造多晶硅块
    废止
    国家标准
    推荐性
    2013-10-01
  • YS/T 792-2012
    单晶炉用碳/碳复合材料坩埚
    现行
    行业标准
    推荐性
    2013-03-01
  • YS/T 838-2012
    碲化镉
    现行
    行业标准
    推荐性
    2013-03-01
  • YS/T 43-2011
    高纯砷
    现行
    行业标准
    推荐性
    2012-07-01
  • GB/T 26071-2010
    太阳能电池用硅单晶切割片
    废止
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26072-2010
    太阳能电池用锗单晶
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26069-2010
    硅退火片规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26068-2010
    硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26067-2010
    硅片切口尺寸测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26065-2010
    硅单晶抛光试验片规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 26066-2010
    硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
  • GB/T 14847-2010
    重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2011-10-01
共 199 条