• 当前位置：
    首页 规范标准 ICS分类

规范标准

Standard Resource
当前选择： ICS分类 电气工程（29） 半导体材料（29.045）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 1555-1997
    半导体单晶晶向测定方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1998-08-01
  • GB/T 17170-1997
    非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1998-08-01
  • GB/T 17169-1997
    硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1998-08-01
  • YS/T 99-1997
    三氧化二砷
    废止
    行业标准
    推荐性
    1998-05-01
  • GB/T 12964-1996
    硅单晶抛光片
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 16596-1996
    确定晶片坐标系规范
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 16595-1996
    晶片通用网格规范
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 12965-1996
    硅单晶切割片和研磨片
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 12963-1996
    硅多晶
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 12962-1996
    硅单晶
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • YS/T 222-1996
    碲锭
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1996-12-01
  • YS/T 223-1996
    硒
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1996-12-01
  • YS/T 224-1994
    铊
    被代替
    暂无
    推荐性
    1993-03-01
  • YS/T 43-1992
    高纯砷
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-03-01
  • YS/T 23-1992
    硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-01-01
  • YS/T 28-1992
    硅片包装
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-01-01
  • YS/T 26-1992
    硅片边缘轮廓检验方法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-01-01
  • YS/T 24-1992
    外延钉缺陷的检验方法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1993-01-01
  • YS/T 15-1991
    硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1992-06-01
共 199 条