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SJ 20348-1993 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法

Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes
基本信息
  • 标准号：
    SJ 20348-1993
  • 名称：
    低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法
  • 英文名称：
    Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    强制性
  • 发布日期：
    1993-05-11
  • 实施日期：
    1993-07-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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