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GB/T 25758.2-2010 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分:针孔照相机射线照相方法
Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 2: Pinhole camera radiographic method基本信息
- 标准号:GB/T 25758.2-2010
- 名称:无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分:针孔照相机射线照相方法
- 英文名称:Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 2: Pinhole camera radiographic method
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2010-12-23
- 实施日期:2011-10-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:GB/T25758《无损检测 工业X射线系统焦点特性》分为五个部分:
———第1部分:扫描方法;
———第2部分:针孔照相机射线照相方法;
———第3部分:狭缝照相机射线照相方法;
———第4部分:边缘方法;
———第5部分:小焦点和微焦点X射线管的有效焦点尺寸的测量方法。
本部分为GB/T25758的第2部分。
本部分等同采用EN12543-2:1999《无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分:针孔照相机射线照相方法》(英文版)。
本部分等同翻译EN12543-2:1999。
为便于使用,本部分作了下列编辑性修改:
———“本欧洲标准”一词改为“本部分”;
———删除EN 标准的前言;
———用小数点“.”代替作为小数点的逗号“,”;
———用GB/T1.1—2000规定的引导语代替EN 标准中的引导语。
本部分的附录A 为资料性附录。
本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
本部分起草单位:上海泰司检测科技有限公司、上海英华无损检测技术有限公司、上海材料研究所、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、通用电气传感检测科技(上海)有限公司、丹东奥龙射线仪器有限公司、山东轻工业学院。
本部分主要起草人:孔凡琴、李博、章怡明、金宇飞、赵成、丁鸣华、李义彬、孙宝江。 - 适用范围:GB/T 25758的本部分规定了采用针孔照相机射线照相方法,来测量管电压最高至500 kV的工业X射线系统的大于0.2 mm焦点尺寸的方法。本部分中测量所用的电压限于200 kV。
X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性,尤其是尺寸和二维强度分布。
商用X射线管类型(例如在广告或贸易中)的特性,宜首先考虑附录A所给出的最大值。 - 引用标准:下列文件中的条款通过GB/T25758的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T19348.1 无损检测 工业射线照相胶片 第1部分:工业射线照相胶片系统的分类1)(GB/T19348.1—2003,ISO11699-1:1998,IDT)
GB/T25758.1 无损检测 工业X 射线系统焦点特性 第1部分:扫描方法(GB/T25758.1—2010,EN12543-1:1999,IDT)
相关标准
- 引用标准:GB/T 19348.1 GB/T 25758.1
- 采用标准:EN 12543-2:1999 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分:针孔照相机射线照相方法 (等同采用 IDT)
相关部门
- 起草单位:上海材料研究所 上海威诚邦达检测技术有限公司 上海泰司检测科技有限公司 上海英华无损检测技术有限公司 上海诚友实业有限公司 通用电气传感检测科技(上海)有限公司 丹东奥龙射线仪器有限公司 山东轻工业学院
- 归口单位:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
- 主管部门:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
相关人员
暂无
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