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GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 5201-2012
  • 名称：
    带电粒子半导体探测器测量方法
  • 英文名称：
    Test procedures for semiconductor charged particle detectors
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2012-06-29
  • 实施日期：
    2012-11-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《三相异步电动机试验方法》等352项国家标准和45项国家标准样品的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准代替GB/T5201—1994《带电粒子半导体探测器测试方法》,本标准与GB/T5201—1994(以下简称原标准)相比,主要技术变化如下:
    ———增加了前言;
    ———增加了第2章“规范性引用文件”,其他章的编号依次后推;
    ———将原标准“术语、符号”改为第3章“术语和定义”,并完全引用GB/T4960.6—2008,不再另行编写;
    ———删除了原标准2.2“符号”部分,在文中用到符号的地方予以说明;
    ———增加了4.1“测试的参考条件或标准试验条件”代替原标准3.1;
    ———将原标准3.3和3.4合并为4.3;删除了原标准3.7;
    ———5.1“电压-电流特性(V-I特性)”增加了反向V-I特性测试;
    ———将原标准4.3“噪声测量”前的悬置段改为5.3.1“测量方法和测量系统”,其他节编号依次后推;
    ———将原标准4.3.6“探测器噪声随放大器时间常数的变化”增加新内容后,改为5.3.7;
    ———5.4.2“电荷收集时间”增加了对“快”、“慢”探测器的区分标准;
    ———第7章“环境试验”完全引用GB/T10263—2006,不再另行编写。
    本标准使用重新起草法参考IEC60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序》编制,与IEC60333:1993的一致性程度为非等效。
    本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC30)提出并归口。
    本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。
    本标准起草人:李志勇、王军。
  • 适用范围：
    本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
    本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
    全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T4960.6—2008 核科学技术术语 第6部分:核仪器仪表
    GB/T10263—2006 核辐射探测器环境条件与试验方法
    GB/T13178—2008 金硅面垒型探测器
相关标准
  • 代替标准：
    GB/T 5201-1994
  • 引用标准：
    GB/T 4960.6-2008 GB/T 10263-2006 GB/T 13178-2008
  • 采用标准：
    IEC 60333:1993 核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序 （非等效采用 NEQ）
相关部门
  • 归口单位：
    全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)
  • 主管部门：
    全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)
  • 起草单位：
    中核(北京)核仪器厂
相关人员
暂无
关联标准