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规范标准

Standard Resource
当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 微电路（L55/59） 半导体集成电路（L56）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • YD/T 3944-2021
    人工智能芯片基准测试评估方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2021-11-01
  • T/CIE 068-2020
    工业级高可靠集成电路评价　第2部分：DC/DC变换器
    现行
    团体标准
    暂无
    2020-08-15
  • T/CIE 067-2020
    工业级高可靠集成电路评价　第1部分：AC/DC电路
    现行
    团体标准
    暂无
    2020-08-15
  • GB/T 36477-2018
    半导体集成电路 快闪存储器测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2019-01-01
  • GB/T 36474-2018
    半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2019-01-01
  • GB/T 35009-2018
    串行NAND型快闪存储器接口规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35008-2018
    串行NOR型快闪存储器接口规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35007-2018
    半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35006-2018
    半导体集成电路 电平转换器测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35004-2018
    数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35003-2018
    非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 14028-2018
    半导体集成电路 模拟开关测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 4377-2018
    半导体集成电路 电压调整器测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • SJ/T 11702-2018
    半导体集成电路 串行外设接口测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • SJ/T 11701-2018
    通用NAND型快闪存储器接口
    现行
    行业标准
    推荐性
    2018-04-01
  • GB/T 33657-2017
    纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2017-12-01
  • SJ/T 11585-2016
    串行存储器接口要求
    现行
    行业标准
    推荐性
    2016-06-01
  • GB/T 16525-2015
    半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2016-01-01
  • GB/T 15878-2015
    半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2016-01-01
  • GB/T 15876-2015
    半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2016-01-01
共 127 条