• 当前位置：
    首页 规范标准 CCS分类

规范标准

Standard Resource
当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 电子元件（L10/34） 电子元件综合（L10）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/Z 21275-2007
    电子电气产品中限用物质六价铬检测方法
    废止
    国家标准
    指导性技术文件
    2008-06-01
  • GB/Z 21274-2007
    电子电气产品中限用物质铅、汞、镉检测方法
    废止
    国家标准
    指导性技术文件
    2008-06-01
  • SJ/T 11364-2006
    电子信息产品污染控制标识要求
    现行
    行业标准
    推荐性
    2006-11-06
  • SJ/T 11365-2006
    电子信息产品中有毒有害物质的检测方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2006-11-06
  • SJ/T 11363-2006
    电子信息产品中有毒有害物质的限量要求
    现行
    行业标准
    推荐性
    2006-11-06
  • SJ 5020/6-2005
    RN1052型膜固定电阻网络详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • SJ 50920/6-2005
    RN1052型膜固定电阻网络详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • SJ 50920/9-2005
    RN1092型膜固定电阻网络详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • SJ 50920/8-2005
    RN1072型膜固定电阻网络详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • SJ 50920/7-2005
    RN1062型膜固定电阻网络详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • SJ 50920/5-2005
    RN1042型膜固定电阻网络详细规范
    现行
    暂无
    强制性
    2006-06-01
  • GB/T 5095.9-1997
    电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验
    现行
    国家标准
    推荐性
    1998-10-01
  • GB/T 11250.4-1989
    复合金属覆铝层厚度的测定 重量法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1990-01-01
  • GB/T 11250.3-1989
    复合金属覆镍层厚度的测定 容量法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1990-01-01
  • GB/T 11250.1-1989
    复合金属覆层厚度的测定 金相法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1990-01-01
  • GB 11250.4-1989
    复合金属覆层厚度的测定 重量法
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-01-01
  • GB 11250.3-1989
    复合金属覆镍层厚度的测定-容量法
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-01-01
  • GB/T 11250.2-1989
    复合金属覆层厚度的测定 X荧光法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1990-01-01
  • GB/T 5078-1985
    单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1985-12-01
  • GB/T 5077-1985
    电容器和电阻器的最大外形尺寸
    废止
    国家标准
    推荐性
    1985-12-01
共 82 条