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规范标准

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当前选择： CCS分类 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84） 化合物半导体材料（H83）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ/T 11489-2015
    低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • YS/T 13-2015
    高纯四氯化锗
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • GB/T 30656-2014
    碳化硅单晶抛光片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 30652-2014
    硅外延用三氯氢硅
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 31092-2014
    蓝宝石单晶晶锭
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • SJ/T 11471-2014
    发光二极管外延片测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • SJ/T 11470-2014
    发光二极管外延片
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 988-2014
    羧乙基锗倍半氧化物
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 982-2014
    氢化炉碳/碳复合材料U形发热体
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 979-2014
    高纯三氧化二镓
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 978-2014
    单晶炉碳/碳复合材料导流筒
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 977-2014
    单晶炉碳/碳复合材料保温筒
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • GB/T 30858-2014
    蓝宝石单晶衬底抛光片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-04-01
  • GB/T 30854-2014
    LED发光用氮化镓基外延片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-04-01
  • GB/T 30856-2014
    LED外延芯片用砷化镓衬底
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-04-01
  • GB/T 30855-2014
    LED外延芯片用磷化镓衬底
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-04-01
  • GB/T 30868-2014
    碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-02-01
  • GB/T 30867-2014
    碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-02-01
  • GB/T 30866-2014
    碳化硅单晶片直径测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-02-01
  • YS/T 792-2012
    单晶炉用碳/碳复合材料坩埚
    现行
    行业标准
    推荐性
    2013-03-01
共 47 条