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规范标准

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当前选择： CCS分类 冶金（H） 金属理化性能试验方法（H20/29） 金属物理性能试验方法（H21）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • YS/T 366-1994
    贵金属及其合金材料对铜热电势测量方法
    被代替
    暂无
    推荐性
    1998-05-01
  • GB/T 17103-1997
    金属材料定量极图的测定
    废止
    国家标准
    推荐性
    1998-05-01
  • GB/T 1553-1997
    硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-12-01
  • GB/T 1550-1997
    非本征半导体材料导电类型测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-12-01
  • YB/T 130-1997
    钢的等温转变曲线图的测定
    现行
    行业标准
    推荐性
    1997-12-01
  • GB/T 1425-1996
    贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 1424-1996
    贵金属及其合金材料电阻系数测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 1423-1996
    贵金属及其合金密度的测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 16596-1996
    确定晶片坐标系规范
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • GB/T 16595-1996
    晶片通用网格规范
    废止
    国家标准
    推荐性
    1997-04-01
  • JB/T 7900-1995
    高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1996-04-14
  • GB/T 6624-1995
    硅抛光片表面质量目测检验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6621-1995
    硅抛光片表面平整度测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6620-1995
    硅片翘曲度非接触式测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6619-1995
    硅片弯曲度测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6618-1995
    硅片厚度和总厚度变化测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6617-1995
    硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6616-1995
    半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 1552-1995
    硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 1551-1995
    硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
共 411 条