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规范标准

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当前选择： CCS分类 化工（G） 化工综合（G00/09） 技术管理（G01）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ/T 10826-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＪ０４５０型双外围正与驱动器
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10825-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２０１３型ＨＴＬ六反相器
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10824-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２０１０型ＨＴＬ四２输入与非门
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10823-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００９型ＨＴＬ三３输入与非门
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10822-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００８型ＨＴＬ双４输入与非门
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10821-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００７型ＨＴＬ四反相器
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10820-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００１型ＨＴＬ双４输入与非门
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10817-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０５４型ＴＴＬ４路２－２－２－２输入与或非门（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10818-1996
    半导体集成非线性电路数字／模拟转换器和模拟／数字转换器测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10804-1996
    半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10803-1996
    半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10802-1996
    半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10801-1996
    半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10800-1996
    半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10784-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤ７６０９ＣＰ行、场扫描电路（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10783-1996
    电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤ７１７６ＣＰ伴音中频放大电路（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10746-1996
    半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10741-1996
    半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10740-1996
    半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 10739-1996
    半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
共 311 条