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规范标准

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当前选择： CCS分类 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84）
  • 半金属与半导体材料综合（H80）
  • 半金属（H81）
  • 元素半导体材料（H82）
  • 化合物半导体材料（H83）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ/T 11490-2015
    低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • SJ/T 11488-2015
    半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • SJ/T 11487-2015
    半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • SJ/T 11489-2015
    低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • YS/T 1061-2015
    改良西门子法多晶硅用硅芯
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • YS/T 28-2015
    硅片包装
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • YS/T 13-2015
    高纯四氯化锗
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-10-01
  • GB/T 30656-2014
    碳化硅单晶抛光片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 30652-2014
    硅外延用三氯氢硅
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 13389-2014
    掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 12963-2014
    电子级多晶硅
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 31092-2014
    蓝宝石单晶晶锭
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-09-01
  • GB/T 2881-2014e
    工业硅
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-08-01
  • GB/T 2881-2014
    工业硅
    现行
    国家标准
    推荐性
    2015-08-01
  • SJ/T 11471-2014
    发光二极管外延片测试方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • SJ/T 11470-2014
    发光二极管外延片
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 68-2014
    砷
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 989-2014
    锗粒
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 988-2014
    羧乙基锗倍半氧化物
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
  • YS/T 986-2014
    晶片正面系列字母数字标志规范
    现行
    行业标准
    推荐性
    2015-04-01
共 221 条