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当前选择： CCS分类 冶金（H） 金属理化性能试验方法（H20/29）
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  • 金相检验方法（H24）
  • 金属化学性能试验方法（H25）
  • 金属无损检验方法（H26）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 15970.3-1995
    金属和合金的腐蚀 应力腐蚀试验 第3部分:U型弯曲试样的制备和应用
    现行
    国家标准
    推荐性
    1996-06-01
  • GB/T 15970.1-1995
    金属和合金的腐蚀 应力腐蚀试验 第1部分:试验方法总则
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-06-01
  • JB/T 7900-1995
    高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法
    被代替
    行业标准
    推荐性
    1996-04-14
  • JB/T 7913-1995
    超声波检验用钢制对比试块的制作与校验方法
    现行
    行业标准
    推荐性
    1996-04-14
  • GB/T 7735-1995
    钢管涡流探伤检验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-03-01
  • GB/T 4338-1995
    金属材料 高温拉伸试验
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-03-01
  • GB/T 15711-1995
    钢材塔形发纹酸浸检验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-03-01
  • GB/T 15615-1995
    硅片抗弯强度测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-02-01
  • GB/T 6624-1995
    硅抛光片表面质量目测检验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6621-1995
    硅抛光片表面平整度测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6620-1995
    硅片翘曲度非接触式测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6619-1995
    硅片弯曲度测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6618-1995
    硅片厚度和总厚度变化测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6617-1995
    硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6616-1995
    半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 6396-1995
    复合钢板力学及工艺性能试验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 4058-1995
    硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 1838-1995
    镀锡钢板(带)镀锡量试验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 1817-1995
    硬质合金常温冲击韧性试验方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
  • GB/T 1552-1995
    硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1995-12-01
共 1371 条