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规范标准

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当前选择： ICS分类 电子学（31） 电子技术专用材料（31.030）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 3353-1995
    人造石英晶体使用指南
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-08-01
  • GB/T 15871-1995
    硬面光掩模基板
    现行
    国家标准
    推荐性
    1996-08-01
  • GB/T 15870-1995
    硬面光掩模用铬薄膜
    现行
    国家标准
    推荐性
    1996-08-01
  • GB/T 3389.5-1995
    压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式
    废止
    国家标准
    推荐性
    1996-04-01
  • GB/T 3503-1993
    氧化钇
    废止
    国家标准
    推荐性
    1994-03-01
  • GB/T 3504-1992
    荧光级氧化铕
    废止
    国家标准
    推荐性
    1993-04-01
  • GB 11496.2-1989
    彩色显示管用Y30-B1荧光粉
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-03-01
  • GB 11496.1-1989
    彩色显示管用Y30-G1荧光粉
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-03-01
  • GB 11297.9-1989
    热释电材料介质损耗角正切tanδ的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-01-01
  • GB 11297.8-1989
    热释电材料热释电系数的测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-01-01
  • GB/T 5594.8-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
    废止
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.7-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.6-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.5-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.4-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.3-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.2-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
  • GB/T 5594.1-1985
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1986-12-01
共 238 条