• 当前位置：
    首页 规范标准 ICS分类

规范标准

Standard Resource
当前选择： ICS分类 电气工程（29）
  • 电气工程综合（29.020）
  • 磁性材料（29.030）
  • 绝缘材料（29.035）
  • 绝缘流体（29.040）
  • 半导体材料（29.045）
  • 导体材料（29.050）
  • 电线和电缆（29.060）
  • 绝缘（29.080）
  • 电气设备元件（29.100）
  • 电工器件（29.120）
  • 开关装置和控制器（29.130）
  • 电灯及有关装置（29.140）
  • 旋转电机（29.160）
  • 变压器、电抗器、电感器（29.180）
  • 整流器、转换器、稳压电源（29.200）
  • 电池和蓄电池（29.220）
  • 输电网和配电网（29.240）
  • 特殊工作条件下用电气设备（29.260）
  • 电力牵引设备（29.280）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 24581-2009
    低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24580-2009
    重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24579-2009
    酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24578-2009
    硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24577-2009
    热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24576-2009
    高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24575-2009
    硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24574-2009
    硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14264-2009
    半导体材料术语
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14146-2009
    硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14144-2009
    硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14141-2009
    硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14140-2009
    硅片直径测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14139-2009
    硅外延片
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 13388-2009
    硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 13387-2009
    硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 12963-2009
    硅多晶
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 11072-2009
    锑化铟多晶、单晶及切割片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6620-2009
    硅片翘曲度非接触式测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6624-2009
    硅抛光片表面质量目测检验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
共 8376 条