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SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法

基本信息
  • 标准号：
    SJ 2658.12-1986
  • 名称：
    半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    暂无
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    暂无
  • 发布日期：
    暂无
  • 实施日期：
    暂无
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    修订公告【2015年第12号(总第192号)】
分类信息
  • ICS分类：
    暂无
  • CCS分类：
    暂无
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
关联标准
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