收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环
Silicon electrode and silicon ring for plasma etching machine
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
暂无
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
-
起草人:
潘金平
孙燕
闫志瑞
张果虎
库黎明
夏秋良
关联标准
-
GB/T 8756-2018
锗晶体缺陷图谱
-
SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法
-
SJ/T 11492-2015
光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
-
YS/T 724-2016
多晶硅用硅粉
-
GB/T 35305-2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
-
GB/T 31474-2015
电子装联高质量内部互连用助焊剂
-
YS/T 223-1996
硒
-
GB/T 24577-2009
热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
-
GB/T 30861-2014
太阳能电池用锗衬底片
-
YS/T 985-2014
硅抛光回收片
-
GB/T 31854-2015
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
-
SJ/T 11497-2015
砷化镓晶片热稳定性的试验方法
-
GB/T 2881-2014
工业硅
-
GB/T 35308-2017
太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
-
YS/T 988-2014
羧乙基锗倍半氧化物
-
GB/T 14144-2009
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
-
GB/T 14847-2010
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
-
GB/T 30867-2014
碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
-
YS/T 838-2012
碲化镉
-
DB65/T 3486-2013
新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法