收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环

Silicon electrode and silicon ring for plasma etching machine
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 41652-2022
  • 名称:
    刻蚀机用硅电极及硅环
  • 英文名称:
    Silicon electrode and silicon ring for plasma etching machine
  • 状态:
    即将实施
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2022-07-11
  • 实施日期:
    2023-02-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《塑料 聚丙烯(PP)模塑和挤出材料 第1部分:命名系统和分类基础》等310项推荐性国家标准和5项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    暂无
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位:
    浙江海纳半导体有限公司 有研半导体硅材料股份公司 山东有研半导体材料有限公司 新美光(苏州)半导体科技有限公司
  • 归口单位:
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
  • 起草人:
    潘金平 孙燕 闫志瑞 张果虎 库黎明 夏秋良
关联标准
  • YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
  • GB/T 25076-2018 太阳能电池用硅单晶
  • YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
  • GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
  • GB/T 20228-2006 砷化镓单晶
  • YS/T 724-2009 硅粉
  • GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
  • GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
  • YS/T 978-2014 单晶炉碳/碳复合材料导流筒
  • GB/T 12963-2009 硅多晶
  • GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
  • GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法
  • GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片
  • GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
  • SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
  • GB/T 19199-2003 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
  • GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
  • YS/T 222-1996 碲锭
  • GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
  • GB/T 16595-1996 晶片通用网格规范
用户分享资源

GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环

Silicon electrode and silicon ring for p...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com