收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环
Silicon electrode and silicon ring for plasma etching machine
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
暂无
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
-
起草人:
潘金平
孙燕
闫志瑞
张果虎
库黎明
夏秋良
关联标准
-
GB/T 11072-2009
锑化铟多晶、单晶及切割片
-
GB/T 12964-2003
硅单晶抛光片
-
GB/T 12964-1996
硅单晶抛光片
-
GB/T 1554-2009
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
-
GB/T 14146-2009
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
-
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度测试方法
-
GB/T 20230-2022
磷化铟单晶
-
YS 68-2004
砷
-
GB/T 14863-2013
用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
-
YS/T 1061-2015
改良西门子法多晶硅用硅芯
-
GB/T 35310-2017
200mm硅外延片
-
T/IAWBS 003-2017
碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
-
SJ/T 11396-2009
氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片
-
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
-
GB/T 14847-2010
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
-
GB/T 30453-2013
硅材料原生缺陷图谱
-
T/IAWBS 001-2017
碳化硅单晶
-
GB/T 26069-2010
硅退火片规范
-
GB/T 25076-2018
太阳能电池用硅单晶
-
GB/T 40561-2021
光伏硅材料 氧含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法