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GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation基本信息
- 标准号:GB/T 5095.2503-2021
- 名称:电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
- 英文名称:Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2021-03-09
- 实施日期:2021-10-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
- 采用标准:IEC 60512-25-3:2001 电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减 (等同采用 IDT)
相关部门
- 起草单位:中国电子技术标准化研究院 四川华丰企业集团有限公司
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 归口单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
相关人员
- 起草人:刘俊 庞斌 庞斌 汪其龙 肖淼 肖淼 朱茗 朱茗
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