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GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 5095.2503-2021
  • 名称:
    电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
  • 英文名称:
    Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2021-03-09
  • 实施日期:
    2021-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 采用标准:
    IEC 60512-25-3:2001 电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院 四川华丰企业集团有限公司
  • 主管部门:
    工业和信息化部(电子)
  • 归口单位:
    全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
相关人员
  • 起草人:
    刘俊 庞斌 庞斌 汪其龙 肖淼 肖淼 朱茗 朱茗
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