收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法
Determination of boron, aluminum and nitrogen impurity content in silicon carbide single crystal—Secondary ion mass spectrometry
基本信息
-
标准号:
GB/T 41153-2021
-
名称:
碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法
-
英文名称:
Determination of boron, aluminum and nitrogen impurity content in silicon carbide single crystal—Secondary ion mass spectrometry
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2021-12-31
-
实施日期:
2022-07-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《全息位置地图数据内容》等530项推荐性国家标准和2项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属化学分析方法(H10/19)
半金属及半导体材料分析方法(H17)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
YS/T 983-2014
多晶硅还原炉和氢化炉尾气成分的测定方法
-
GB/T 32277-2015
硅的仪器中子活化分析测试方法
-
DL/T 818-2002
低合金耐热钢碳化物相分析技术导则
-
YS/T 226.10-1994
硒中硫量的测定(蒸馏还原吸光光度法)
-
GB/T 11346-1989
铝合金铸件X 射线照相检验针孔(圆形)分级
-
YS/T 226.13-2009
硒化学分析方法 第13部分:银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
YS/T 1107-2016
羧乙基锗倍半氧化物化学分析方法
-
YS/T 15-2015
硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
-
YS/T 226.2-1994
硒中锑量的测定(孔雀绿吸光光度法)
-
YS/T 37.3-1992
高纯二氧化锗化学分析方法 石墨炉原子吸收光谱法测定砷量
-
YS/T 438.5-2001
砂状氧化铝物理性能测定方法 X衍射法测定α-氧化铝含量
-
DB53/T 728-2015
云南省锌物料中铟含量的测定 原子吸收分光光度法
-
GB/T 34612-2017
蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
-
YS/T 226.9-2009
硒化学分析方法 第9部分:铁量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
YS/T 34.2-1992
高纯砷化学分析方法 化学光谱法测定钴、锌、银、铜、钙、铝、镍、铬、铅、镁、铁量
-
JB/T 10061-1999
A型脉冲反射式超声探伤仪 通用技术条件
-
SN/T 2413-2010
进出口金属硅中总碳和硫含量测定 高频燃烧红外吸收光谱法
-
GB/T 19199-2015
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
-
SN/T 1650-2005
金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
YS/T 519.4-2009
砷化学分析方法 第4部分:铋、锑、硫量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法