收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
基本信息
-
标准号：
GB/T 24581-2022
-
名称：
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
-
英文名称：
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
-
状态：
即将实施
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2022-03-09
-
实施日期：
2022-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《高标准农田建设 通则》等357项推荐性国家标准和4项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
半金属及半导体材料分析方法（H17）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
YB/T 130-1997
钢的等温转变曲线图的测定
-
YS/T 1509.1-2021
硅碳复合负极材料化学分析方法 第1部分：硅含量的测定 重量法和分光光度法
-
YS/T 15-2015
硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
-
SN/T 2047-2008
进口铜精矿中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
YS/T 227.8-1994
碲中镁、钠量的测定(原子吸收分光光度法)
-
GB/T 32280-2015
硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法
-
JB/T 10063-1999
超声探伤用1号标准试块 技术条件
-
GB/T 4373.4-1984
砷化学分析方法 二硫代二安替比林基甲烷光度法测定铋量
-
DB53/T 749-2016
云南省工业硅粉水分的测定 红外加热法
-
GB/T 1557-2006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
-
YB/T 169-2000
高碳钢盘条索氏体含量金相检测方法
-
SN/T 2091-2008
进出口锑锭中铅、铜、铁、铋含量的测定 原子吸收光谱法
-
GB/T 19921-2005
硅抛光片表面颗粒测试方法
-
GB/T 6885-1986
硬质合金 混合粉取样和试验方法
-
JB/T 10062-1999
超声探伤用探头 性能测试方法
-
GB/T 17433-1998
冶金产品化学分析基础术语
-
YS/T 679-2018
非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
-
GB/T 14849.2-1993
工业硅化学分析方法 铬天青-S分光光度法测定铝量
-
GB/T 1557-2018
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
-
YS/T 226.5-2009
硒化学分析方法 第5部分：硅量的测定 硅钼蓝分光光度法
打开设置，点击
执行注册
