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GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
基本信息
-
标准号：
GB/T 24581-2022
-
名称：
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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英文名称：
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
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状态：
即将实施
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类型：
国家标准
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性质：
推荐性
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发布日期：
2022-03-09
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实施日期：
2022-10-01
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废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【关于批准发布《高标准农田建设 通则》等357项推荐性国家标准和4项国家标准修改单的公告】
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分类信息
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ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
半金属及半导体材料分析方法（H17）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
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