收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 24581-2022
  • 名称:
    硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
  • 英文名称:
    Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
  • 状态:
    即将实施
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2022-03-09
  • 实施日期:
    2022-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《高标准农田建设 通则》等357项推荐性国家标准和4项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属化学分析方法(H10/19) 半金属及半导体材料分析方法(H17)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 24581-2009
相关部门
  • 起草单位:
    国标(北京)检验认证有限公司 有色金属技术经济研究院有限责任公司 有色金属技术经济研究院有限责任公司 新特能源股份有限公司 义乌力迈新材料有限公司 江苏中能硅业科技发展有限公司 陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司 宜昌南玻硅材料有限公司 洛阳中硅高科技有限公司 新疆协鑫新能源材料科技有限公司 乐山市产品质量监督检验所 江苏鑫华半导体材料科技有限公司 国标(北京)检验认证有限公司 有研半导体硅材料股份公司 青海芯测科技有限公司 亚洲硅业(青海)股份有限公司 四川永祥股份有限公司 江苏秦烯新材料有限公司
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位:
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准
  • YS/T 519.1-2006 砷化学分析方法 溴酸钾容量法测定砷量
  • SN/T 2083-2008 黄铜分析方法 火化原子发射光谱法
  • YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
  • GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
  • YS/T 987-2021 氯硅烷中碳含量的测定?气相色谱质谱联用法
  • SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
  • YS/T 1301-2019 氯硅烷中三氯氧磷、三氯化磷的测定 气相色谱质谱联用法
  • SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
  • YS/T 34.2-2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
  • YB/T 4003-1997 连铸钢板坯低倍组织缺陷评级图
  • YS/T 226.5-1994 硒中汞量的测定
  • YS/T 226.1-1994 硒中铋量的测定(碘化钾、硫脲、马钱子碱吸光光度法)
  • DB62/T 2761-2017 甘肃省不锈钢除尘灰和铬质引流砂中多元素含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法
  • GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法
  • YS/T 438.3-2001 砂状氧化铝物理性能测定方法 安息角的测定
  • YS/T 34.1-1992 高纯砷化学分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑量
  • GB/T 39145-2020 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
  • YB/T 5316-2006 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法测定碳量
  • YS/T 981.3-2014 高纯铟化学分析方法 硅量的测定 硅钼蓝分光光度法
  • GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法
用户分享资源

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变...

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities conte...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变...
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com