收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20229-2022 磷化镓单晶
Gallium phosphide single crystal
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
化合物半导体材料(H83)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 24577-2009
热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
-
GB/T 29506-2013
300mm 硅单晶抛光片
-
YS/T 724-2009
硅粉
-
GB/T 20230-2006
磷化铟单晶
-
GB/T 14264-2009
半导体材料术语
-
GB/T 24575-2009
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
-
GB/T 29507-2013
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
-
GB/T 37053-2018
氮化镓外延片及衬底片通用规范
-
GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片
-
GB/T 29055-2012
太阳电池用多晶硅片
-
YS/T 985-2014
硅抛光回收片
-
GB/T 1558-2009
硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法
-
YS/T 1061-2015
改良西门子法多晶硅用硅芯
-
GB/T 2881-2014e
工业硅
-
GB/T 26069-2022
硅单晶退火片
-
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料
-
GB/T 6616-2009
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
-
GB/T 12963-2014
电子级多晶硅
-
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
-
SJ/T 11489-2015
低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法