收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
Indium phosphide single crystal
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
化合物半导体材料(H83)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
YS/T 651-2007
二氧化硒
-
YS/T 1510-2021
高纯锗粉
-
SJ/T 11490-2015
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
GB/T 24574-2009
硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
-
YS/T 224-1994
铊
-
DB65/T 3485-2013
新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
-
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
-
GB/T 29054-2012
太阳能级铸造多晶硅块
-
GB/T 29506-2013
300mm 硅单晶抛光片
-
GB/T 29054-2019
太阳能电池用铸造多晶硅块
-
SJ/T 11496-2015
红外吸收法测量砷化镓中硼含量
-
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
-
YS/T 838-2012
碲化镉
-
GB/T 36706-2018
磷化铟多晶
-
GB/T 25074-2017e
太阳能级多晶硅
-
GB/T 17170-1997
非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
-
GB/T 11072-2009
锑化铟多晶、单晶及切割片
-
GB/T 16596-2019
确定晶片坐标系规范
-
GB/T 14141-2009
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
-
YS/T 24-1992
外延钉缺陷的检验方法