• 当前位置：
    首页 规范标准 GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 20230-2022 磷化铟单晶

Indium phosphide single crystal
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 20230-2022
  • 名称：
    磷化铟单晶
  • 英文名称：
    Indium phosphide single crystal
  • 状态：
    即将实施
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2022-03-09
  • 实施日期：
    2022-10-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《高标准农田建设 通则》等357项推荐性国家标准和4项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 电气工程（29） 半导体材料（29.045） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84） 化合物半导体材料（H83） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB/T 20230-2006
相关部门
  • 起草单位：
    有色金属技术经济研究院有限责任公司 有色金属技术经济研究院有限责任公司 中国电子科技集团公司第十三研究所 有研国晶辉新材料有限公司 云南鑫耀半导体材料有限公司 广东先导微电子科技有限公司
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 20228-2006 砷化镓单晶
  • GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
  • GB/T 8750-1997 半导体器件键合金丝
  • YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
  • GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
  • YS/T 838-2012 碲化镉
  • GB/T 31092-2014 蓝宝石单晶晶锭
  • SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
  • GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
  • GB/T 11094-2020 水平法砷化镓单晶及切割片
  • YS/T 1061-2015 改良西门子法多晶硅用硅芯
  • GB/T 14264-2009 半导体材料术语
  • GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
  • GB/T 2881-2014 工业硅
  • YS/T 543-2015 半导体键合用铝-1%硅细丝
  • DB35/T 1146-2011 福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
  • GB/T 26069-2022 硅单晶退火片
  • GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
  • GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
  • SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
用户分享资源

GB/T 20230-2022 磷化铟单晶

Indium phosphide single crystal 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com