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GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)
Life test and acceleration life test--Optimal linear deflection-free--Evaluation of Weibull distributions
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子元器件综合（31.020）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子元器件与信息技术综合（L00/09）
可靠性和可维护性（L05）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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归口单位：
工业和信息化部（电子）
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主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
电子部标准化所
相关人员
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