收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedure基本信息
- 标准号:GB/T 11498-1989
- 名称:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
- 英文名称:Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedure
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1989-03-31
- 实施日期:1990-04-01
- 废止日期:2019-07-02
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 起草单位:机电部43所
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸
- GB/T 16525-2015 半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
- GB/T 32815-2016 硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
- GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
- GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
- GB/T 26112-2010 微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则
- SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
- GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
- GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
- GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
- GB/T 14024-1992 内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰
- GB 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
- GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
- GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)
- GB/T 5965-2000 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
- GB/T 14129-1993 半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
- GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范
- GB/T 35010.1-2018 半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
- SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法