收藏到云盘
纠错反馈
YS/T 724-2016 多晶硅用硅粉
Silicon power for polycrystalline
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
YS/T 1157.4-2016
粗氢氧化钴化学分析方法 第4部分：锰量的测定 电位滴定法
-
YS/T 1149.8-2016
锌精矿焙砂化学分析方法 第8部分：酸溶二氧化硅量的测定 钼蓝分光光度法
-
YS/T 471-2004
铜及铜合金韦氏硬度试验方法
-
YS/T 96-1996
散装浮选铜精矿、铅精矿中金银分析取制样方法
-
YS/T 461.5-2003
混合铅锌精矿化学分析方法 二氧化硅量的测定 钼蓝分光光度法
-
YS/T 938.4-2013
齿科烤瓷修复用金基和钯基合金化学分析方法 第4部分：金、铂、钯、铜、锡、铟、锌、镓、铍、铁、锰、锂量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
YS/T 912-2013
阳极纯铜粒
-
YS/T 1142-2016
钒蒸发料
-
YS/T 1180-2017
锗精矿单位产品能源消耗限额
-
YS/T 74.2-2010
镉化学分析方法 第2部分：锑量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法
-
YS/T 999-2014
铜及铜合金毛细管涡流探伤方法
-
YS/T 273.12-2006
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第12部分：火焰原子吸收光谱法测定氧化钙含量
-
YS/T 276.7-2011
铟化学分析方法 第7部分：铅量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
YS/T 1081-2015
硝酸铯
-
YS/T 372.16-2006
贵金属合金元素分析方法 镓量的测定 EDTA络合滴定法
-
YS/T 1047.13-2020
铜磁铁矿化学分析方法 第13部分：汞含量的测定 固体进样直接测定法和冷原子吸收光谱法
-
YS/T 581.14-2006
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第14部分：松装密度的测定
-
YS/T 637-2007
彩色荧光粉用磷酸锂
-
YS/T 678-2008
半导体器件键合用铜丝
-
YS/T 820.23-2012
红土镍矿化学分析方法 第23部分: 钴、铁、镍、磷、氧化铝、氧化钙、氧化铬、氧化镁、氧化锰、二氧化硅和二氧化钛量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
打开设置，点击
执行注册
