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GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals--measurement of Hall mobility and Hall coefficient
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 4326-1984
  • 名称:
    非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • 英文名称:
    Extrinsic semiconductor single crystals--measurement of Hall mobility and Hall coefficient
  • 状态:
    废止
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    1984-04-12
  • 实施日期:
    1985-03-01
  • 废止日期:
    2006-12-31
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 归口单位:
    中国有色金属工业协会
  • 主管部门:
    中国有色金属工业协会
  • 起草单位:
    有色金属研究总院
相关人员
暂无
关联标准