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GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 5594.8-1985
  • 名称：
    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
  • 英文名称：
    Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1985-11-27
  • 实施日期：
    1986-12-01
  • 废止日期：
    2016-01-01
  • 相关公告：
    修订公告【关于批准发布《中国地震动参数区划图》等357项国家标准的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 归口单位：
    工业和信息化部（电子）
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
  • 起草单位：
    上海科技大学
相关人员
暂无
关联标准