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GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
基本信息
-
标准号：
GB/T 5594.8-1985
-
名称：
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
-
英文名称：
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
-
状态：
废止
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类型：
国家标准
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性质：
推荐性
-
发布日期：
1985-11-27
-
实施日期：
1986-12-01
-
废止日期：
2016-01-01
-
相关公告：
修订公告【关于批准发布《中国地震动参数区划图》等357项国家标准的公告】
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分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
暂无
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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归口单位：
工业和信息化部（电子）
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主管部门：
工业和信息化部（电子）
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起草单位：
上海科技大学
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