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GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forchemical durability基本信息
- 标准号:GB/T 5594.6-1985
- 名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
- 英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forchemical durability
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1985-11-27
- 实施日期:1986-12-01
- 废止日期:2016-01-01
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:暂无
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 归口单位:工业和信息化部(电子)
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 起草单位:上海无线电一厂
相关人员
暂无
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