收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
电子技术专用材料(31.030)
】
-
CCS分类:
暂无
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
工业和信息化部(电子)
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
-
起草单位:
南京电子管厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 4194-2017
钨丝蠕变试验、高温处理及金相检查方法
-
GB 11496.1-1989
彩色显示管用Y30-G1荧光粉
-
GB/T 29844-2013
用于先进集成电路光刻工艺综合评估的图形规范
-
SJ 20894-2003
电子设备零部件包封灌封材料选择与使用
-
JB/T 12513-2014
高精度锰铜电阻合金窄扁带
-
GB/T 15870-1995
硬面光掩模用铬薄膜
-
SJ/T 3231-2005
低熔焊接玻璃粉
-
JB/T 9494-1999
聚酯漆包圆电阻线
-
SJ/T 3200-2016
银钎焊接头规范
-
JB/T 9493.3-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 丁二酮肟重量法测定镍量
-
GB/T 11446.1-1997
电子级水
-
GB/T 4187-2017
钨条和钨杆
-
GB/T 31379-2015
平板显示器(FPD)偏光膜试验方法
-
JB/T 9499.1-1999
康铜电阻合金化学分析方法 电解重量法测定铜量
-
SJ 20867-2003
电子陶瓷用氧化铍粉体材料规范
-
SJ/T 11125-1997
电子元器件用环氧系灌封材料
-
SJ/T 11510-2015
液晶显示器用 铝腐蚀液
-
JB/T 9495.3-1999
光学晶体透过率测量方法
-
SJ/T 11011-2015
电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
-
GB/T 5594.7-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法