收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)
Blank detail specification for semiconductor inte-grated circuit static read/write memories
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
半导体集成电路(L56)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
-
起草单位:
北京半导体器件研究所
-
归口单位:
全国集成电路标准化技术委员会基础分会
相关人员
关联标准
-
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 14027.7-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种
-
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
-
GB 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
-
GB/T 12084-1989
半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
-
JB/T 6264.2-1992
半导体集成电路SJ5081C复印机专用电路产品规范
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 14027.2-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种
-
GB/T 14027.3-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种
-
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
-
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 34893-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
-
GB/T 26111-2010
微机电系统(MEMS)技术 术语
-
GB/T 16525-2015
半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
-
SJ/Z 11356-2006
片上总线属性规范
-
GB/T 3434-1986
半导体集成电路ECL电路系列和品种
-
GB/T 15862-1995
离子注入机通用技术条件
-
GB/T 15877-2013
半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
-
SJ/Z 11354-2006
集成电路模拟/混合信号IP核规范