收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 4589.1-1989 半导体器件 分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
Semiconductor devices--Generic specification for discrete devices and integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
半导体分立器件（31.080）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
半导体分立器件（L40/49）
半导体分立器件综合（L40）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
信息产业部（电子）
-
起草单位：
机电部五十五所
相关人员
关联标准
-
GB/T 4937.13-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
-
SJ 20972-2007
电荷耦合成像组件通用规范
-
GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
-
SJ/T 2658.8-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
-
SJ/T 2658.1-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
-
SJ/T 2658.9-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
-
SJ 50033/160-2002
半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
-
SJ 1603-1980
硅双基极二极管基极间电阻的测试方法
-
GB/T 20521-2006
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
-
GB/T 8446.1-2004
电力半导体器件用散热器 第1部分:铸造类系列
-
DB61/T 1250-2019
陕西省Sic（碳化硅）材料半导体分立器件通用规范
-
GB 11499-1989
半导体分立器件文字符号
-
GB/T 15852.2-2012
信息技术 安全技术 消息鉴别码 第2部分：采用专用杂凑函数的机制
-
SJ 50033/169-2004
半导体分立器件3DA510型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
-
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
-
SJ/T 2658.7-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量
-
GB/T 8446.2-1987
电力半导体器件用散热器热阻和流阻测试方法
-
GB/T 18910.41-2008
液晶显示器件 第4-1部分：彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性
-
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
-
SJ 1609-1980
硅双基极二极管分压比的测试方法
打开设置，点击
执行注册
