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GB 11114-1989 人造石英晶体位错的X射线形貌检测方法
Method for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子元器件综合（31.020）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
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