收藏到云盘
纠错反馈
GB 11153-1989 激光小功率计性能检测方法
Parameters testing method of laser power meter in low range
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
光电子器件(L50/54)
激光器件(L51)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
北京光电技术研究所
-
起草单位:
北京光电技术研究所
-
主管部门:
信息产业部(电子)
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11578-2016
LED模块电光转换效率要求
-
GB/T 4799-2001
激光器型号命名方法
-
GB/T 13584-2011
红外探测器参数测试方法
-
GB/T 24664-2009
工业用大功率激光器光束质量测试评定方法
-
GB/T 36358-2018
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
-
GB/T 12565-1990
半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
-
GB/Z 18461-2001
激光产品的安全 生产者关于激光辐射安全的检查清单
-
GB 12511-1990
纤维光学开关 第1部分:总规范:(可供认证用)
-
GB/T 11153-1989
激光小功率计性能检测方法
-
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
-
GB/T 21548-2008
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
-
GB/T 16601.2-2017
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第2部分:阈值确定
-
GB/T 41265-2022
可穿戴设备的光辐射安全要求
-
SJ 20821-2002
激光棒单程损耗系数的测量方法
-
GB 11297.2-1989
激光棒侧向散射系数的测量方法
-
GB/T 7247.14-2012
激光产品的安全 第14部分:用户指南
-
GB/T 4932-2000
二氧化碳激光器系列型谱
-
GB/T 15649-1995
半导体激光二极管空白详细规范
-
GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
-
GB/T 15651.4-2017
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器