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GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法

Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 11685-1989
  • 名称：
    半导体X射线能谱仪的测试方法
  • 英文名称：
    Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
  • 状态：
    被代替
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    1989-10-14
  • 实施日期：
    1990-05-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
关联标准