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GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法
Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
计量学和测量、物理现象（17）
辐射测量（17.240）
】
-
CCS分类：
【
能源、核技术（F）
核仪器与核探测器（F80/89）
核仪器与核探测器综合（F80）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
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