收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 12750-1991 半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用)
Sectional specification for semiconductor integrated circuits, excluding hybrid circuits基本信息
- 标准号:GB/T 12750-1991
- 名称:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用)
- 英文名称:Sectional specification for semiconductor integrated circuits, excluding hybrid circuits
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:1991-03-21
- 实施日期:1991-11-01
- 废止日期:2007-02-01
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 起草单位:电子标准化所
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 17866-1999 掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
- GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
- GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
- GB/T 14024-1992 内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰
- GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
- GB 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法
- GB/T 15877-1995 蚀刻型双列封装引线框架规范
- GB/T 6813-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种
- SJ/Z 11361-2006 集成电路IP核保护大纲
- GB/T 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用)
- GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
- GB 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
- SJ 52438/14-2004 混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
- GB/T 38762.3-2020 产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第3部分:角度尺寸
- GB/T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
- SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
- GB/T 34898-2017 微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
- GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
- GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法
- GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范