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GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
Generalprinciple of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits’ parameters for semiconductor integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
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引用标准：
SJ/Z 9015.2(IEC 748-2)
相关部门
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归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
北京机械自动化所
相关人员
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