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GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
Generalprinciple of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits’ parameters for semiconductor integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
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引用标准:
SJ/Z 9015.2(IEC 748-2)
相关部门
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归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
-
起草单位:
北京机械自动化所
相关人员
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