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SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法
Test methods of densification structure for electronic equipments
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
电子元器件与信息技术综合(L00/09)
技术管理(L01)
】
-
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