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SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法
Test methods of densification structure for electronic equipments
基本信息
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ICS分类：
暂无
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CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子元器件与信息技术综合（L00/09）
技术管理（L01）
】
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