收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法
Test methods of densification structure for electronic equipments
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子元器件与信息技术综合（L00/09）
技术管理（L01）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11523-2015
线阵列扬声器系统用音箱性能测试方法
-
SJ/T 11528-2015
信息技术 移动存储 存储卡通用规范
-
SJ/T 9520-1993
电传机产品质量分等标准
-
SJ/T 11408-2009
软件构件 图形用户界面图元构件描述规范
-
SJ/T 10574-1994
RJ76型精密金属膜电阻器详细规范
-
SJ/T 11338-2006
数字电视液晶背投影显示器通用规范
-
SJ/T 10057-1991
2CZ60型硅整流二级管详细规范
-
SJ/T 11674.3-2017
信息技术服务 集成实施 第3部分：项目验收规范
-
SJ/T 11275-2002
卧式液相外延系统通用规范
-
SJ/T 10613-1995
时钟/台标发生器技术条件
-
SJ/T 10706-1996
液晶显示器件外形窗口优选尺寸系列
-
SJ/Z 11351-2006
用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准
-
SJ/T 11574-2016
数字电视地面广播发射机通用规范
-
SJ/T 10466.19-1995
质量改进指南
-
SJ/T 10370.1-1993
电视频道信号发生器通用技术条件
-
SJ/T 10395-1993
F80型射频立连接器
-
SJ/T 10427.1-1993
半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
-
SJ/T 11670-2017
工业生产综合监控系统工程设计规范
-
SJ/T 11471-2014
发光二极管外延片测试方法
-
SJ/T 10472-2013
函数信号发生器通用规范
打开设置，点击
执行注册
