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SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法

Test methods of densification structure for electronic equipments
基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 10167-1991
  • 名称:
    电子设备密封结构试验方法
  • 英文名称:
    Test methods of densification structure for electronic equipments
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    1991-04-02
  • 实施日期:
    1991-07-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    暂无
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分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 电子元器件与信息技术综合(L00/09) 技术管理(L01)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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