收藏到云盘
纠错反馈
SJ 20014-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范
Semiconductor discrete device-Detail specification for PNP silicon low-power transistor for Type 3CG110 GP,GT and GCT classes
基本信息
-
标准号：
SJ 20014-1992
-
名称：
半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范
-
英文名称：
Semiconductor discrete device-Detail specification for PNP silicon low-power transistor for Type 3CG110 GP,GT and GCT classes
-
状态：
现行
-
类型：
暂无
-
性质：
强制性
-
发布日期：
1992-02-01
-
实施日期：
1992-05-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
暂无
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
综合（A）
标准化管理与一般规定（A00/09）
技术管理（A01）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
中国电子技术标准化研究所
-
提出部门：
中国电子工业总公司科技质量局
-
起草单位：
中国电子技术标准化研究所和济南半导体
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10588.14-1994
DB-442型电子玻璃技术数据
-
DB45/T 1399-2016
广西壮族自治区科学技术成果评价指标
-
SJ/T 10629.5-1995
计算机辅助设计设计文件管理制度设计文件的管理
-
SJ/T 10869-1996
盘封管电性能测试方法 功率增益的测试方法
-
GB/T 41323-2022
腐蚀控制工程全生命周期 术语
-
DB44/T 1616-2015
广东省社工服务站管理规范
-
DB23/T 727-2010
黑龙江省用水定额
-
SJ 20016-1992
半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＤＧ１８２型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范
-
SJ 20035-1992
ＪＣＷＧ３２型空气介质管状（活塞型）微调可变电容器详细规范
-
SJ/T 10865-1996
盘封管电性能测试方法 频率响应特性的测试方法
-
SJ/T 10424-1993
半导体器件用钝化封装玻璃粉
-
SJ/T 10148.3-1991
电气简图的编制方法 系统图(框图)
-
DB1304/T 362-2021
邯郸市降糖辣椒基质栽培技术规程
-
GB/T 22154-2008E
国际货运代理服务质量要求（英文版）
-
DB32/T 2058-2012
江苏省科技集聚区服务规范
-
SJ/T 10421-1993
大功率陶瓷发射管制造质量控制要点
-
SJ/T 10149-1991
电子元器件图形库 半导体分立器件图形
-
DB63/T 446-2003
青海省绿色食品 油菜生产技术规程
-
SJ/T 10087.2-1991
彩色显象管玻璃主要原材料的化学分析方法 白云石的化学分析方法
-
SJ/T 10551-1994
电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
打开设置，点击
执行注册
