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YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法

基本信息
  • 标准号:
    YS/T 14-1991
  • 名称:
    导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    被代替
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    1991-04-26
  • 实施日期:
    1992-06-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    修订公告【2015年第7号(总第187号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 元素半导体材料(H82)
  • 行标分类:
    有色冶金(YS)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
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暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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