收藏到云盘
纠错反馈

GB 2881-1991 工业硅技术条件

Technical requirements for silicon metal
基本信息
  • 标准号:
    GB 2881-1991
  • 名称:
    工业硅技术条件
  • 英文名称:
    Technical requirements for silicon metal
  • 状态:
    被代替
  • 类型:
    暂无
  • 性质:
    强制性
  • 发布日期:
    1991-10-05
  • 实施日期:
    1992-06-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    暂无
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 元素半导体材料(H82)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了工业硅的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于在矿热炉内用碳质还原剂与硅石熔炼所生产的工业硅。此种工业硅主要用于配制合金、制取多晶硅和有机硅等。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 主管部门:
    中国有色金属工业协会
  • 归口单位:
    全国有色金属标准化技术委员会
  • 提出部门:
    中国有色金属工业总公司
  • 起草单位:
    民和镁厂
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 25074-2017e 太阳能级多晶硅
  • GB/T 26069-2022 硅单晶退火片
  • YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
  • SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  • GB/T 12964-1996 硅单晶抛光片
  • GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
  • GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
  • GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片
  • YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
  • GB/T 40566-2021 流化床法颗粒硅 氢含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
  • GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶
  • GB/T 12962-2005 硅单晶
  • GB/T 12962-2015 硅单晶
  • YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
  • SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
  • YS/T 989-2014 锗粒
  • SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  • YS/T 557-2006 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
  • GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片
  • GB/T 12964-2003 硅单晶抛光片
用户分享资源

GB 2881-1991 工业硅技术条件

Technical requirements for silicon metal
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB 2881-1991 工业硅技术条件
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com