收藏到云盘
纠错反馈
GB 2881-1991 工业硅技术条件
Technical requirements for silicon metal
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
元素半导体材料(H82)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
主管部门:
中国有色金属工业协会
-
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会
-
提出部门:
中国有色金属工业总公司
-
起草单位:
民和镁厂
相关人员
关联标准
-
GB/T 25074-2017e
太阳能级多晶硅
-
GB/T 26069-2022
硅单晶退火片
-
YS/T 1167-2016
硅单晶腐蚀片
-
SJ/T 11491-2015
短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
-
GB/T 12964-1996
硅单晶抛光片
-
GB/T 41325-2022
集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
-
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
-
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
-
YS/T 14-1991
导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
-
GB/T 40566-2021
流化床法颗粒硅 氢含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
-
GB/T 29504-2013
300mm 硅单晶
-
GB/T 12962-2005
硅单晶
-
GB/T 12962-2015
硅单晶
-
YS/T 15-1991
硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
-
SJ/T 11494-2015
硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
-
YS/T 989-2014
锗粒
-
SJ/T 11552-2015
以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
-
YS/T 557-2006
压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
-
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
-
GB/T 12964-2003
硅单晶抛光片